某磁共振公司與國知局“磁共振成像方法”發明專利無效行政糾紛案二審判決書

中華人民共和國最高人民法院

行 政 判 決 書

（2019）最高法知行終61号

上訴人(原審原告):西門子(深圳)磁共振有限公司。

上訴人(原審被告):國家知識産權局。

上訴人(原審第三人):上海聯影醫療科技有限公司。

上訴人西門子(深圳)磁共振有限公司(以下簡稱西門子公司)與上訴人國家知識産權局、上訴人上海聯影醫療科技有限公司(以下簡稱聯影公司)因專利權無效行政糾紛一案,不服北京知識産權法院于2019年4月26日作出的(2018)京73行初1404号行政判決,向本院提起上訴。本院于209年7月17日立案後,依法組成合議庭并公開開庭審理了本案。上訴人西門子公司的委托訴訟代理人侯宇、張貴東,上訴人國家知識産權局的委托訴訟代理人倪曉紅、王婧,上訴人聯影公司的委托訴訟代理人韓穎、陳哲到庭參加訴訟。本案現已審理終結。

西門子公司上訴請求:1.糾正(2018)京73行初1404号行政判決中的事實認定和法律适用錯誤;2.撤銷國家知識産權局專利複審委員會(以下簡稱專利複審委員會)作出的第33719号無效宣告請求審查決定(以下簡稱被訴決定),并判令國家知識産權局重新作出無效宣告請求審查決定。事實和理由:原審判決對專利号爲201310072198.X、名稱爲“平面回波成像序列圖像的重建方法”的發明專利(以下簡稱本專利)權利要求2、5的保護範圍解釋不清,法律适用錯誤。對權利要求的解釋應當以本領域普通技術人員在閱讀權利要求書、說明書和附圖之後對該術語所能理解的通常含義爲準,不應不恰當地将說明書中的内容解釋到權利要求中,否則将造成權利要求保護範圍的不确定性,損害公衆利益。

在确權程序中對權利要求的修改應始終優先于對權利要求的限縮性解釋。原審判決雖然籠統地指出了本領域技術人員可按照說明書的内容得知具體計算方式,但卻并沒有具體指出本專利說明書中哪些段落用于解釋權利要求2、5中的“零次項相位偏差因子”“一次項相位偏差因子”“零次項相位偏移因子”“一次項相位偏移因子”。公衆不能知道說明書的哪些部分被解釋到了權利要求中,很難确定本專利的保護範圍。權利要求2中的“零次項相位偏差因子”和“一次項相位偏差因子”應當被解釋爲可以用于消除圖像N/2僞影的任何零次項相位校正參數和一次項相位校正參數,而不應限定其具體的計算方法。權利要求5中的“零次項相位偏移因子”和“一次項相位偏移因子”應當被解釋爲可以用于校正圖像變形的任何零次項相位校正參數和一次項相位校正參數,也不應當限定其具體的計算方法。

國家知識産權局辯稱:原審判決對于本專利權利要求2中的“零次項相位偏差因子”“一次項相位偏差因子”、權利要求5中的“零次項相位偏移因子”“一次項相位偏移因子”的解釋正确。

聯影公司述稱:權利要求2、5清楚、簡要地限定了專利權保護範圍,符合《中華人民共和國專利法(以下簡稱專利法)第二十六條第四款的規定。權利要求1具備新穎性,權利要求2的附加技術特征也具備新穎性。

國家知識産權局上訴請求:撤銷原審判決;維持被訴決定;駁回西門子公司原審全部訴訟請求。事實和理由:原審法院用最大合理解釋原則來解釋權利要求1中“計算”系法律适用不當,導緻對新穎性的認定錯誤。“最大合理解釋”原則必須滿足“合理”這一條件。“計算”不能進行最廣義的解釋,權利要求1中“通過所述參考回波信号計算出需要對所述平面回波成像數據進行校正的參數”應指不損失其相位以及其他信息的直接計算方式,而不包括對比文件1中将S1+S3平均後損失某些信息的間接計算。原審法院對“計算”的解釋會導緻權利要求1的保護範圍中包含明顯不合理的屬于本專利排除在外的現有技術方案被訴決定根據說明書的記載将“計算”解釋爲“直接進行計算”既符合本專利申請文件中的客觀記載,亦符合專利權人的主觀保護意圖,是對權利要求1保護範圍的正确認定。

西門子公司辯稱:被訴決定錯誤理解了對比文件1公開的技術内容,忽視了對比文件1中明确記載的用于計算校正參數的三個實際采集的參考回波信号(S1、S2和S3),僅片面地截取一中間計算步驟與本專利權利要求1中的技術特征進行比對,導緻明顯的事實認定錯誤。本專利權利要求1的技術方案與對比文件1公開的技術方案相同,均是利用三個參考回波信号計算校正參數。“計算”一詞應被“準确”且“合理”地解釋爲本領域技術人員所理解的通常含義,即由已知量計算出未知量,無需關注“計算”的具體中間過程。因此,本專利權利要求1相對于對比文件1不具備新穎性。應駁回國家知識産權局的上訴請求,維持原審判決中關于本專利權利要求1相對于對比文件1不具備新穎性的認定。

聯影公司述稱:認可被訴決定,應支持國家知識産權局的上訴請求。

聯影公司上訴請求:撤銷原審判決,維持被訴決定。事實和理由:1.權利要求1中的“計算”對象是“所述參考回波信号”,即權利要求1所述的“同時采集的三條沒有經過相位編碼的參考回波信号R1、R2、R3”;而對比文件1是利用一條采集獲得的參考回波信号和一條經算數平均後所獲得的虛拟信号進行計算,該信号已不是“參考回波信号”,兩者具有本質差異原審判決對權利要求的解釋不符合發明目的,即不符合“最大合理解釋”中“合理”要求。2.對比文件2、3或4未公開本專利權利要求2的附加技術特征,對比文件5或6未公開權利要求5的附加技術特征,本專利權利要求2、5及其從屬權利要求均具備創造性,被訴決定對此認定無誤。

西門子公司辯稱:對比文件1已經公開了實際采集三個參考回波信号S1、S2和S3。雖然計算校正參數的過程是先将第一參考回波S1和第三參考回波S3計算,得到一個插值回波S2,并利用該插值回波S2和第二參考回波S2計算用于N/2僞影校正的參數。但是在對比文件1計算校正參數的過程中,三個實際采集的參考回波信号S1、S2和S3均參與到校正參數的計算。因此,對比文件1的技術方案與本專利權利要求1的技術方案完全相同,本專利權利要求1相對于對比文件1不具備新穎性原審判決關于本專利權利要求1是否具備新穎性的認定正确,應駁回聯影公司的上訴請求。

國家知識産權局述稱:認可聯影公司的上訴請求和理由。

西門子公司向原審法院提起訴訟,原審法院于2018年2月5日立案受理。西門子公司起訴請求:撤銷被訴決定,責令國家知識産權局重新作出決定。事實和理由:1.被訴決定有關本專利權利要求1、2具備新穎性的認定錯誤。2.被訴決定有關本專利權利要求2、5及其從屬權利要求清楚的認定錯誤。3.被訴決定有關本專利權利要求2、5及其從屬權利要求能夠得到說明書支持的認定錯誤。4.被訴決定有關本專利權利要求2、5及其從屬權利要求具備創造性的認定錯誤。

國家知識産權局原審辯稱:限縮性解釋問題建立在對本專利說明書所公開的技術信息的理解基礎之上,而且不可否認說明書對權利要求的解釋作用。被訴決定認定事實清楚,适用法律正确,審理程序合法,請求法院駁回西門子公司的訴訟請求。

聯影公司原審述稱:同意被訴決定意見,請求法院駁回西門子公司的訴訟請求。

原審法院認定事實:

(一)關于本專利基本情況

2013年3月6日,聯影公司申請了名稱爲“平面回波成像序列圖像的重建方法”的發明專利。專利号爲201310072198.X,授權公告日爲2015年5月13日。授權公告的權利要求如下:1.一種平面回波成像序列的圖像重建方法,其特征在于,包括如下步驟:

獲取平面回波成像數據S,并同時采集三條沒有經過相位編碼的參考回波信号R1、R2、R3,所述三條參考回波信号分别爲偶信号、奇信号以及偶信号;

通過所述參考回波信号計算出需要對所述平面回波成像數據進行校正的參數;

将所述平面回波成像數據沿讀出方向進行一維傅裏葉變換得變換結果FS1,并用所述校正參數校正FS,計算出校正後的平面回波成像數據;

對校正後的平面回波成像數據沿相位編碼方向做一維傅裏葉變換得到圖像。

2.如權利要求1所述平面回波成像序列圖像重建方法,其特征在于,所述校正參數包括零次項相位偏差因子、一次項相位偏差因子。

3.如權利要求2所述的平面回波成像序列圖像重建方法,其特征在于,對所述平面回波成像數據的偶數項信号或者奇數項信号進行校正,得到校正後的數據CFS;(n),Fs(=FSxexpsign(n其中i爲平面回波成像信号序數中的偶數項或者fsFSxexp--sign(n其中i爲平面回波成像信Nro号序數中的奇數項;

其中j=√,n爲讀出方向樣本點的序數,Nro爲讀出方向總樣本點的個數,當所述參考回波信号與平面回波成像信号的相應奇偶梯度極性一緻時,所述sign=+1,當所述參考回波信号與平面回波成像信号的相應奇偶梯度極性相反時,所述sign=-14.如權利要求2所述的平面回波成像序列圖像重建方法,其特征在于,對所述平面回波成像數據的偶數項信号與奇數項信号進行校正,得到校正後的數據CFS(n),CF(n)=FSxexpsign*2o+(n-2其中i爲平面回波成像信号序數中的偶數項,以及CF(m=FSxexp-gnom+(-2其中i爲平面回波成像信号序數中的奇數項;

其中j=√1,n爲讀出方向樣本點的序數,Nro爲讀出方向總樣本點的個數,當所述參考回波信号與平面回波成像信号的相應奇偶梯度極性一緻時,所述sign=+1,當所述參考回波信号與平面回波成像信号的相應奇偶梯度極性相反時,所述sign=-15.如權利要求1或2所述的平面回波成像序列圖像重建方法,其特征在于,所述校正參數包括零次項相位偏移因子oh一次項相位偏移因子。

6.如權利要求5所述的平面回波序列圖像重建方法,其特征在于,對所述平面回波成像數據的偶數項信号與奇數項信号進行校正,得到校正後的數據CFS(n),(n)=FSxexp-tone+-no其中i爲平面回波成像信号序數;

所述j=√1,n爲讀出方向樣本點的序數,Nro爲讀出方向總樣本點的個數,Npe爲相位編碼方向樣本點總數。

7.如權利要求5所述的平面回波成像序列圖像重建方法,其特征在于,對所述平面回波成像數據的偶數項信号與奇數項信号進行校正,得到校正後的數據CFS(n),CFS,()=FS,xexp:(i-Npe)Npexn-)其中i爲平面回波成像信号序數中的偶數項,以及

()FS,xexp{-i[sign*Npe)+(sign+-NpexnNyro1:,2n-2

其中i爲平面回波成像信号序數中的奇數項;或者CES,()I'S,xexp{[sign*--Npe)+(signNpeon-Nro))其中i爲平面回波成像信号序數中的偶數項,以及CFS()FS,xexp-j(-)+(Nro"2

其中i爲平面回波成像信号序數中的奇數項;或者Npe Nro

CFS()FS,xexptsign*()+sign*Xi-esn-2o,其中i爲平面回波成像信号序數中的偶數項,以及CFS(n)=FS,xexp(-itxign*(ph+(-Npe)sign*+i-Npeon-Nro1,其中i爲平面回波成像信号序數中的奇數項;

其中j=√-1,n爲讀出方向樣本點的序數,Nro爲讀出方向總樣本點的個數,Npe爲相位編碼方向樣本點總數,當所述參考回波信号與平面回波成像信号的相應奇偶梯度極性一緻時,所述sign=+1,當所述參考回波信号與平面回波成像信号的相應奇偶梯度極性相反時,所述sign=-1

8.如權利要求5所述的平面回波成像序列圖像重建方法,其特征在于,所述一次項相位偏差因子所述一次項相位偏移因子與第一一次項相位第二一次項相位關聯,所述第一次項相位爲所述參考回波信号R1與R2的一次項相位差,所述第二一次項相位爲所述參考回波信号R2與R3的一次項相位差。

9.如權利要求8所述的平面回波成像序列圖像重建方法,其特征在于,所述一次項相位偏差因子所述一次項相位偏移因子=10.如權利要求5所述的平面回波成像序列圖像重建方法,其特征在于,所述零次項相位偏差因子所述零次項相位偏移因子與第一零次項相位第二零次項相位關聯,所述第一零次項相位n爲所述參考回波信号R1與2的零次項相位差,所述第二零次項相位爲所述參考回波信号R2與R3的零次項相位差。

11.如權利要求10所述的平面回波成像序列圖像重建方法,其特征在于,所述零次項相位偏差因子_Poth

12.如權利要求8所述的平面回波成像序列圖像重建方法,其特征在于,對所述參考回波信号R1、R2、R3傅裏葉變換後複數共轭相乘,用來計算需要對所述平面回波成像數據進行校正的參數。

13.如權利要求12所述的平面回波成像序列圖像重建方法,其特征在于,将所述參考回波信号R1、R2、R3傅裏葉變換得變換結果FR1、FR2與FR3,

FR1=FT1D{)

FR2=FT1D(R2)

然後将所述FR1與FR2、FR2與FR3複數共轭相乘得運算結果P1(n)、P2(n),

P1(n)=FR1(n)xconj[FR2(n)]

P2(n)=FR3(n)xconj[FR2(n)]其中n的取值範圍爲[1,Nro];

分别取P1(n)、P2(n)的幅值最大值AMAX1、AMAX2;将所述P1(n)及P2(n)鄰近兩點的複數共轭相乘得運算結果DP1(n)、DP2(n),

DP2(n)=P2(n+)xconj[P2(n)]将所述DP1(n)對應所述P1(n)幅值大于τ×AMAX1的所有點相加得運算結果SDP1(n),SDP(n)=6DP(n),所述DP2(n)對應所述P2(n)幅值大于τAMAX2的所有點相加得運算結果SDP2(n),DP(n)=D2(n),其中爲預設參數,爲0或1,當所述P1(n)幅值大于τ×AMAX1或所述P2(n)幅值大于AMAX2時,=1,否則δ=0;

分别取所述SDP1(n)與SDP2(n)的相位即可得所述第一一次項相位所述第二一次項相位。

14.如權利要求13所述的平面回波成像序列圖像重建方法,其特征在于,對所述P1(n)及P2(n)的相位進行校正,以消除s和的影響,得到校正結果CP1(n)、CP2(n),CP(n)=(n)xexp[-j(n-Nro/2)]将所述CP1(n)對應所述P1(n)幅值大于τ×AMAX1的所有點相加得運算結果SCP1(n),SC(n)=CP(n),所述CP2(n)對應所述P2(n)幅值大于τ×AMAX2的所有點相加得運算結果SCP2(n),sC)=xC(n),其中T爲預設參數,爲0或1,當所述P1(n)幅值大于τ×AMAX1或所述P2(n)幅值大于AMAX22時,=1,否則δ=0;

分别取所述SCP1(n)與SCP2(n)的相位即可得所述第一零次項相位所述第二零次項相位p

15.如權利要求13或14中任一項所述的平面回波成像序列圖像重建方法,其特征在于,所述預設參數τ=0.516.如權利要求13所述的平面回波成像序列圖像重建方法,其特征在于,若使用多通道采集平面回波數據,則将所述FR1與FR2、FR與FR3複數共轭相乘然後進行多通道合并,包括:P,()=>FR()xcon/[FR(n)]P:(=FR()xconLFR()]其中1與Ncoil分别爲接收通道序數、接收通道的總數。

(二)關于被訴決定基本情況

針對本專利,西門子公司于2016年11月30日向專利複審委員會提出了無效宣告請求,認爲本專利權利要求1-16不符合專利法第二十二條第三款、權利要求1不符合專利法第二十二條第四款,權利要求1、2、5、8、10不符合專利法第二十六條第四款、權利要求1、2、5不符合專利法第二十二條第二款的規定,請求宣告本專利權利要求全部無效,同時提交了如下7份證據:證據1(對比文件1):公開号爲DE19715113A1的德國專利文獻,公開日期爲1998年10月22日,公開了“在EPI序列中,核磁共振信号的采樣值的采樣時間典型地處于0.5至4us由此産生信号偏移,其結果是上面示出的N/2僞影。在行方向上的傅裏葉變換之後,所述信号偏移導緻信号的線性相位響應。此外,也可能發生恒定的相位誤差。例如,在基本磁場漂移的情況下,這樣的漂移可能通過渦流導緻圖像變形。在行方向上對原始數據矩陣進行傅裏葉變換之後,由此整體上得到取決于列數i的相位響應:(i)=+11圖8示出了在實際的圖像測量之前的讀出梯度GR的正的子脈沖下的核磁共振信号S1和在讀出梯度GR的負的子脈沖下的核磁共振信号S2形式的兩個參考回波。

在沒有相位編碼梯度的影響的情況下獲取兩個參考回波,即核磁共振信号S1和S2。”對比文件1還公開了“在前面提到的專利文獻中現在假定,在負的和正的子脈沖下獲取的兩個核磁共振信号之間的相位差代表了最終導緻開始解釋的N/2僞影的相位誤差。然而,在該考慮中忽視了以下效應兩個參考回波S1和S2和具有不可避免地不同的回波時間,即參考回波S1的回波時間TE1小于參考回波S2的回波時間TE2。如果對象中的局部自旋進動頻率以△ω的量與MR設備處設置的頻率不一到處,則這導緻在兩個參考回波之間的相位差,△=△w·T,其不能與本身要被校正的不同來源的相位差相區别根據按照圖8的本發明的示例性實施例,這通過測量第三參考回波S3來避免,該參考回波與第一參考回波S1一樣在讀出梯度GR的正的子脈沖下被測量。”“圖14以流程圖再次示出了整個校正過程。首先,采集參考回波和圖像回波(圖像信号)。對于參考回波和對于圖像回波,在行方向上進行傅裏葉變換。然後分别對于兩個參考回波,借助自相關函數确定線性相位響應,利用其校正在行方向上傅裏葉變換後的圖像回波。此外,還利用确定的線性相位響應的交正參考回波本身。通過校正後的參考回波的互相關,獲得對于恒定相位響應的校正量φ。對圖像數據應用對應的校正。通過對校正後的矩陣在列方向上進行傅裏葉變換最終獲得圖像”。

證據2(對比文件2):公開号爲US2011/0234221A1美國專利文獻,公開日期爲2011年9月29日;

證據3(對比文件3):公開号爲US5581184A美國專利文獻,公開日期爲1996年12月3日;

證據4(對比文件4):“NewPhaseCorrectionMethodinNMRImagingBasedonAutocorrelationandHistogramAnalysis",..AHN,MEMBER,IEEEANDZ.H.CHO.FELLOW,IEEEIEEETRANSACTIONSONMEDICALIMAGING.VOL.M1-6,NO.1,MARCH1987;

證據5(對比文件5):公開号爲US7689262B2美國專利文獻,公開日期爲2010年3月30日;

證據6(對比文件6):公開号爲CN101109791B中國發明專利,授權公告日爲2010年9月29日;

證據7(對比文件7):公開号爲US5151656A美國專利文獻,公開日期爲1992年9月29日

2016年12月29日,西門子公司提交了補充意見陳述書,補充提交了證據1-4、5、7的部分中文譯文,并提交了如下證據(編号續前):

證據8:申請公布号爲€8CY1028700€,的中國發明專利申請,申請公布日爲2013年1月9日。

西門子公司補充意見認爲:從屬權利要求12不符合專利法第二十二條第二款規定的新穎性;獨立權利要求1相對于證據1、證據5的結合不具備專利法第二十二條第三款規定的創造性;從屬權利要求4的附加技術特征爲證據1結合公知常識所公開;從屬權利要求16的附加技術特征爲證據8結合公知常識所公開。

另外,西門子公司還認爲權利要求10的附加技術特征被證據2公開,但未具體說明理由,并認爲權利要求1-16均不符合專利法第二十六條第四款有關清楚和/或支持的規定。

專利複審委員會受理上述無效宣告請求後,于2017年4月17日進行了口頭審理。在口頭審理過程中,西門子公司放棄權利要求12不符合專利法第二十二條第二款的無效理由,放棄使用證據1結合證據5評述權利要求1的創造性;西門子公司明确其無效理由爲本專利權利要求1不符合專利法第十二條第四款的規定,權利要求1-16不符合專利法第ニ十六條第四款的規定,權利要求1、2、5不符合專利法第十二條第二款的規定;權利要求1-16不符合專利法第二十二條第三款的規定。其中權利要求1相對于證據1、2、5不具備新穎性,故不具備創造性,權利要求2的附加技術特征爲證據2、3或4所公開,權利要求5的附加技術特征爲證據5或證據6所公開;其他權利要求評價新穎性和創造性的證據使用方式與請求書和補充意見陳述書中緻2017年4月21日,西門子公司另提交了意見陳述書,并附如下附件:

附件1:證明證據1的技術在公開後20年間被廣泛采用的教科書頁;

附件2:蓋有國家圖書館齊縫章的證據4的文獻複制證明。

2017年10月9日,專利複審委員會作出被訴決定,認爲:(一)本專利具備實用性,符合專利法第二十二條第四款的規定;(二)本專利權利要求清楚,且能夠得到說明書的支持,符合專利法第二十六條第四款的規定;(三)本專利具備新穎性,符合專利法第二十二條第二款的規定;(四)本專利具備創造性,符合專利法第二十二條第三款的規定。綜上,專利複審委員會決定維持本專利有效。

原審法院認爲:

(一)關于本專利權利要求2、5及其從屬權利要求是否清楚

就該争議焦點而言,西門子公司訴訟主張的核心觀點在于本專利權利要求2中的“零次項相位偏差因子”和“一次項相位偏差因子”,以及權利要求5中的“零次項相位偏移因子”和“次項相位偏移因子”并非本領域技術人員熟知的技術術語,說明書中亦未明确其含義,因此是不清楚的,進而也無法确定權利要求的保護範圍。

對此,對于權利要求中相關技術特征的含義,首先應當根據描述該特征的語詞的字面意思進行理解,且在一般情況下,相關語詞應當理解爲本領域通常所具有的含義。如果相關語詞在本領域沒有确切含義,但說明書中已經對其進行了明确界定,使得權利要求的保護範圍由于說明書的明确界定而足夠清楚,則此時也應認爲該權利要求符合專利法第二十六條第四款有關“清楚”的要求。

具體到本案中,以權利要求2爲例,各方當事人均認可權利要求2中的“零次項相位偏差因子”和“一次項相位偏差因子”并非本領域技術人員所知曉的具有明确含義的技術術語。在此情況下,本專利說明書中是否存在以及存在何種針對上述術語的記載至關重要。根據說明書的記載,本專利通過消除N/2僞影和校正圖像變形,旨在提供一種存在偏離場的情況下,更爲精準的平面回波成像序列的圖像重建方法。其中,消除N/2僞影的方法是校正“零次項相位偏差”和“一次項相位偏差”,與此相對應的校正參數即爲“零次項相位偏差因子”和一次項相位偏差因子”。

而對于該校正參數的計算方式,說明書中明确記載了以R2爲參照系的具體計算方法。基于此,本領域技術人員根據其所具備的知識和能力,并結合本專利的發明目的和說明書中公開的具體實施方式,能夠想到還存在其他可變形的計算方式,例如分别以R或R3爲參照系進行計算,同樣也能得到在平面回波成像序列的圖像重建中起到消除N/2僞影作用的校正參數。因此,盡管本專利權利要求2中限定的“零次項相位偏差因子”和“一次項相位偏差因子”并非本領域具有明确含義的技術術語,但根據說明書的全面闡釋和明确界定,本領域技術人員能夠知曉其确切含義和用途,故權利要求2是清楚的。

本專利權利要求5涉及“零次項相位偏移因子”和“一次項相位偏移因子”,基于以上評述權利要求2的相同理由,本領域技術人員根據說明書的記載,同樣能夠知曉“零次項相位偏移因子”和“一次項相位偏移因子”的确切含義和用途(即用于校正圖像變形),因而權利要求5也是清楚的。

基于以上論述,從屬于權利要求2、5的其他權利要求也不存在不清楚的缺陷。被訴決定對此認定正确,原審法院予以支持。

西門子公司的相關主張不能成立,原審法院不予支持。

(二)關于本專利權利要求2、5及其從屬權利要求是否能夠得到說明書支持

西門子公司主張本專利權利要求2、5及其從屬權利要求無法得到說明書支持的理由仍然是針對權利要求2中的“零次項相位偏差因子”和“一次項相位偏差因子”,以及權利要求5中的“零次項相位偏移因子”和“一次項相位偏移因子”而展開,認爲說明書中有限個數的示例不足以爲相關權利要求提供支持。

對此,專利法第二十六條第四款所規定的“權利要求書應當以說明書爲依據”是指權利要求應當得到說明書的支持。如果權利要求所要求保護的技術方案是本領域技術人員能夠通過說明書公開的内容得到或概括得出,沒有超出說明書公開的範圍,則應當認爲權利要求能夠得到說明書的支持。具體到本案中,仍以權利要求2爲例,如前所述,其中的“零次項相位偏差因子”和“一次項相位偏差因子”并非本領域具有明确含義的技術術語。

但這并不妨礙本領域技術人員根據說明書的記載獲知,“零次項相位偏差因子”和“一次項相位偏差因子是用于在平面回波成像的圖像重建過程中消除N/2僞影,以得到更高質量的診斷圖像,并且也能獲知以某一參考回波信号爲參照系計算得到上述校正參數的具體方式。在此基礎上,本領域技術人員根據本專利的發明目的以及說明書已經公開的具體實施方式,能夠想到其他可變形的計算方式,例如以其他參考回波信号爲參照系,計算得到權利要求2所限定的可用于消除N/2僞影的“零次項相位偏差因子”和“一次項相位偏差因子”。因此,權利要求2的技術方案能夠從說明書公開的内容得到或概括得出,也即能夠得到說明書的支持。

本專利權利要求5涉及“零次項相位偏移因子”和“一次項相位偏移因子”,基于以上評述權利要求2的相同理由,本領域技術人員根據說明書的記載,同樣能夠得到或概括得出權利要求5的技術方案,因此權利要求5也能夠得到說明書的支持。

鑒于西門子公司有關權利要求不能得到說明書支持的主張均是圍繞權利要求2、5中的校正參數而展開,故基于以上論述,從屬于權利要求2、5的其他權利要求也能夠得到說明書的支持。

被訴決定對此認定正确,原審法院予以支持。西門子公司的相關主張不能成立,原審法院不予支持。

(三)關于本專利是否具備新穎性

本專利權利要求1和對比文件1均涉及通過計算相關校正參數(或數據)進而對磁共振成像進行重建(或校正)的方法。具體而言,本專利權利要求1請求保護一種平面回波成像序列的圖像重建方法,其中包括采集三個參考回波信号,即偶信号R1、奇信号R2、偶信号R3,并通過該三個參考回波信号計算得到用于對平面回波成像數據進行校正的參數。但對于如何使用上述參考回波信号進行“計算”,權利要求1并未作進一步限定。對比文件1則公開了實際采集三個參考回波信号,即S1、S2和S3(分别相當于權利要求1中的偶信号、奇信号、偶信号),并通過該三個參考回波信号計算校正數據。雖然對比文件1是先以第一參考回波S1和第三參考回波S3來計算插值回波S2,然後再将該插值回波S2與第二參考回波S2進行比較以确定校正數據,但在整個過程中,實際采集的三個參考回波信号S1、S2和S3均參與到了對校正數據的計算過程中。基于此,原審法院對被訴決定将“計算”限縮解釋爲“直接進行計算”的認定不予認同,原因在于:首先,“計算”一詞對于本領域技術人員而言是具有明确清晰含義的,即根據已知量算出未知量,這與前述“零次項相位偏差因子”等由專利權人自創的技術術語不同,通常并不需要借助說明書中的相關界定來理解其含義。

其次,即便需要對權利要求進行解釋,也應遵循一定的原則,且其目的在于明确權利要求中相關用語的含義,并合理界定專利權的保護範圍。最高人民法院在(2014)行提字第17号行政判決中指出:“通常情況下,在專利授權确權程序中,對權利要求的解釋采取最大合理解釋原則,即基于權利要求的文字記載,結合對說明書的理解,對權利要求作出最廣義的合理解釋。如果說明書未對權利要求用語的含義作出特别界定,原則上應采取本領域普通技術人員在閱讀權利要求書、說明書和附圖之後對該術語所能理解的通常含義,盡量避免利用說明書或者審查檔案對該術語作不适當的限制,以便對權利要求是否符合授權條件和效力問題作出更清晰的結論,從而促使申請人修改和完善專利申請文件,提高專利授權确權質量。”顯然,該案針對專利授權确權程序中權利要求解釋方法所提出的“最大合理解釋原則”也同樣适用于本案。

最後,遵循上述“最大合理解釋原則”并具體到本案情形,本專利說明書中既未針對權利要求1中的“計算”進行專門界定,也沒有與“直接進行計算”相關的任何表述,在此情況下,應當對“計算”作出最廣義的解釋,且此種廣義解釋也未超出合理範圍。被訴決定将“計算”限縮解釋爲“直接進行計算”,實質上是先将說明書中記載的具體實施方式進行歸納總結,再将其與對比文件1中計算校正數據的方法進行比較後得出的結論。這種解釋權利要求的方法将帶來極大的不确定性,而且何爲“直接”本身就是模糊的,權利要求1的保護範圍反而将因此變得不清楚,不符合對權利要求進行解釋的目的。

綜上所述,本專利權利要求1的保護範圍囊括了所有采集三個不同極性的參考回波信号并以此來計算校正參數的方法。對比文件1也是采集三個不同極性的參考回波信号,并通過該三個參考回波信号來計算校正數據,故已公開了權利要求1的上述技術特征。至于校正參數的具體計算方式,正如西門子公司庭審時所言,不過是“黑匣子”中雖然存在但無需關注的中間過程,對本案新穎性判斷并無影響。因此,被訴決定有關本專利權利要求1相對于對比文件1具備新穎性的認定錯誤,原審法院予以糾正。

西門子公司的相關訴訟主張成立,原審法院予以支持。

鑒于被訴決定是在本專利權利要求1具備新穎性的基礎上,得出其從屬權利要求2、5、12也具備新穎性的結論,國家知識産權局應當在對權利要求1的新穎性問題重新進行審查後,再對相關權利要求是否具備新穎性進行審查,原審法院不予以評述。

(四)關于本專利是否具備創造性

本案中,被訴決定認定本專利權利要求2、5具備創造性,并基于此認定其他從屬權利要求也具備創造性。在權利要求1不具備新穎性的情況下,權利要求2、5是否具備新穎性尚不明确,需要國家知識産權局在重新審查後得出結論,而且該新穎性的結論也将直接影響到後續有關創造性的審查因此,原審法院認爲,不宜跳過新穎性問題迳行對權利要求25的創造性問題進行評述。而對于權利要求2、5的從屬權利要求,基于前述相同理由,在權利要求2、5是否具備創造性尚不明确時,也不宜直接對從屬于權利要求2、5的其他權利要求的創造性問題進行評述。

綜上所述,原審法院認爲,被訴決定有關本專利新穎性的認定有誤,依法應予撤銷。原審法院判決:一、撤銷專利複審委員會作出的第33719号無效宣告請求審查決定;二、國家知識産權局就專利号爲201310072198.X、名稱爲“平面回波成像序列圖像的重建方法”發明專利重新作出無效宣告請求審查決定。案件受理費一百元,由國家知識産權局負擔。

二審中,當事人均未提交新證據。

本院經審理查明:原審查明的上述事實基本屬實,本院予以确認。

另查明,本專利說明書記載:

【背景技術】[0002]目前在磁共振成像過程中,平面回波成像序列是一種快速的、隻需要單個激發脈沖就可獲得完整圖像的磁共振成像序列。磁共振梯度系統周期性變換,産生一系列梯度回波;受激平面的圖像通過對産生的回波序列使用傅裏葉變換而得到。

[0003…由于回波序列中奇數和偶數回波時間的不匹配或者相位差導緻在重建之後得到的正常圖像在偏離實際的圖像視野一半的位置出現低強度的附加圖像,此即爲N/2僞影,圖像出現了整體漂移以及變形。

[0004]爲了盡可能地消除N/2僞影,現有技術中采用了一些校正方法,主要爲兩種:相位校正和單邊讀出梯度法。

[0005]相位校正法包括一維相位校正方法以及二維相位校正法。一維相位校正法,在讀取數據之前,采集幾個不加相位編碼的回波信号,如圖1中的回波信号c根據第一個和第二個回波信号,算出它們相位差異,把這些相位差作爲校正量來校正采集到的圖像數據,即校正所有偶數項信号和奇數項信号之間的相位差。由于不是所有偶數項信号與奇數項信号之間的相位差都等于求得的校正量,所以該方法雖然簡單,但是效果不好,并不能有效地消除N/2僞影,同時目前的一維相位校正法并不能同時校正平面回波圖像的變形,這在低磁場的磁共振系統尤爲明顯。

[0006]二維相位校正法,同樣是在讀取圖像數據前,采集一序列加相位編碼的回波信号,利用這些采集到的數據糾正真正的圖像數據。該方法消除N/2僞影的效果比較好,但是序列采集時間延長,平面回波成像序列失去了快速成像的優點。

[0007]單邊讀出梯度法隻在一個極性的讀出梯度時采集數據,該方法可以完全避免N/2僞影問題,但是不能糾正圖像變形,浪費掃描時間。而且由于回波時間間隔比較長,圖像在相位編碼方向上的位移,以及因磁場不均勻導緻的圖像變形更爲嚴重。

[0008現有技術中能夠有效消除N/2僞影的校正方法采集時間較長或者不能夠校正由于偏離場而導緻的圖像變形,采集時間較短的校正方法去除N/2僞影的效果比較差且同時也不能夠校正圖像的變形。因此,需要提供一種更爲精準的平面回波成像序列的圖像重建方法。

【發明内容】[0009]爲了解決現有技術中平面回波成像序列中消除N/2僞影效果差,不能校正圖像變形,以及采集時間較長的問題,本發明提供了一種更爲精準的平面回波成像序列的圖像重建方法。

[0083]脈沖激發以及磁場梯度周期性變換,産生一系列梯度回波,平面回波成像數據S即這些梯度回波信号,同時采集三條沒有經過相位編碼的回波信号,這裏需要說明的是,三個參考回波信号的采集是在成像數據采集的同一次掃描中進行的。

[0084]執行步驟S11,通過所述參考回波信号計算出需要對所述平面回波成像數據進行校正的參數;

[0085]所述校正參數包括零次項相位偏差因子、一次項相位偏差因子,零次項相位偏移因子、一次項相位偏移因子

[0086]如圖3所示,圖中的水平直線代表了在理想情況下平面回波信号的相位随回波位置的變化。與之相交的有一定角度的直線代表了在有偏離場△B存在的情況下回波信号的相位随回波位置的變化。同時由于正負極性差異而散落在直線兩側的數據即表示正負回波信号的相位差異。偏離場△B的存在導緻平面回波圖像存在一定的變形,而散落在直線兩側所表示的回波信号差異表現在圖像上即是N/2僞影。

[0087]爲了得到清晰完整的能夠用于診斷的高質量圖像,必須要消除僞影以及校正圖像的變形。當偏離場B的主要來源爲讀出(以x軸表示)小梯度的切換時,它與空間位置呈一定的線性關系。因此而産生的回波信号相位偏差及偏移也成線性變化。

[0088]用=a+Bx表述沿讀出方向的回波信号相位,則有q=a+bx、2=a2+2x、B=a3+x,其中零次項相位偏移2一次項相位偏移2、零次項相位偏差+a-22一次項=B-B

2、相位偏差=+-2

[0089]從上面可以看出,校正零次項相位偏差及一次項相位偏差即可消除N/2僞影帶來的影響,而校正零次項相位偏移及一次項相位偏移即可校正△B帶來的圖像變形。

再查明,被訴決定作出的主要理由爲:

(一)關于本專利是否符合專利法第二十二條第四款的規定

“同時”并非是指在同一時間采集三條不同極性的信号,而是在一次獲取平面回波成像數據的相同時間内采集三條不同極性的信号,如本專利說明書[0083]段所述“脈沖激發以及磁場梯度周期性變換,産生一系列梯度回波,平面回波成像數據S即這些梯度回波信号,同時采集三條沒有經過相應編碼的回波信号,這裏需要說明的是,三個參考回波信号的采集是在成像數據采集的同一次掃描中進行的。”由于在完全相同的同一時間點采集信号,基于特定時間點的相位完全一緻,其采集的信号極性必然是完全相同,本領域技術人員可知上述段落中所表述的意思是在同一次掃描的時間段内不同的時間點采集了三條極性不同的信号,本領域技術人員可以理解爲獲取對于所要校正的平面回波成像數據進行校正,從所述同一次掃描的時間段内的信号計算出的校正參數,才能對其存在的需要校正的情況予以校正;其次,本領域技術人員可知平面回波成像數據通常是有相位編碼的,而參考回波信号是可以沒有相位編碼的,在前述的“同時”理解爲同一次掃描的時間段不同時間點采集參考回波的情況下,本領域技術人員已經可以實現權利要求1記載的技術方案因此西門子公司的上述主張不成立。

(二)關于本專利是否符合專利法第二十六條第四款的規定

1.本專利權利要求1中的“同時”應理解爲本專利說明書[0083]段所述在同一掃描時間段的不同時間點采集信号,所謂“同時”是指在獲取平面回波成像數據的同一時間段内,因此西門子公司在無效請求書中主張的上述缺陷不存在。

2.權利要求2中限定的“零次項相位偏差因子”“一次項相位偏差因子”并非本領域技術人員熟知明确含義的技術術語,雖然術語“相位”的含義是爲本領域技術人員所知曉的,但是并不明确上述兩個用語的明确含義。也就是說,上述兩個用語在本領域中并沒有在相關領域中具有内涵和邊界十分明确的含義。那麽在此情況下,在本專利說明書予以清楚明确說明其含義的,應當遵循其在說明書記載的本義。本專利旨在解決平面回波成像序列圖像重建過程中,保持一維相位校正快速簡單的優點,能夠在有偏離場存在的情況下有效地去除N/2僞影同時能夠校正由于偏離場存在而導緻的圖像變形。換言之,本專利旨在校正的誤差包括兩種具體情況:簡單而言,一是N/2僞影,二是圖像變形。其中,在圖像上表現爲N/2僞影的原因是由于讀出梯度正負極性的差異,導緻讀出的數據并不完全一緻,如回波中心不一緻,K空間上每條線的間隔不等。而導緻在圖像變形的原因是由于磁場的不均勻性即偏離場的存在。爲了得到清晰完整的能夠用于診斷的高質量圖像,必須要消除僞影及圖像變形。通過本專利說明書附圖3中針對重建方法的步驟11的具體說明,明确了“校正零次項相位偏差及一次項相位偏差即可消除N/2僞影帶來的影響”,也就是說,本專利中校正零次項相位偏差及一次項相位偏差是在平面回波成像序列的圖像重建方法中作爲消除N/2僞影帶來的影響的因子。因此,雖然權利要求2中限定的“零次項相位偏差因子”“一次項相位偏差因子”并非相關領域的技術術語,但是基于本專利說明書中給予的明确闡釋,本領域技術人員可知其是用于平面回波成像序列的圖像重建方法中爲了得到清晰完整能用于診斷的高質量圖像,用于消除圖像/2僞影帶來的影響的校正參數。至于其如何計算,說明書裏已經給出了以R2爲參照系的具體計算實施方式,本領域技術人員在說明書具體實施方式所公開的内容基礎上可以想到其存在其他可變形的方式,例如以R1或R3爲參照系,隻要其能夠起到對于平面回波成像序列的圖像重建方法中作爲消除圖像N/2僞影帶來的影響的校正參數即可。因此西門子公司認爲其含義不清楚的主張不成立。

3.基于與前述相似的理由,即若權利要求中的用語不具有本領域明确含義的情況下,可以首先依據其内部證據,即說明書中給出的明确含義來理解。本專利旨在校正的誤差包括兩種具體情況:一是N/2僞影,二是圖像變形。其中,在圖像上表現爲N/2僞影的原因是由于讀出梯度正負極性的差異,導緻讀出的數據并不完全一緻,如回波中心不一緻,K空間上每條線的間隔不等。

而導緻在圖像變形的原因是由于磁場的不均勻性即偏離場的存在。爲了得到清晰完整的能夠用于診斷的高質量圖像,必須要消除僞影及圖像變形。通過針對重建方法的本專利說明書附圖3中步驟11的具體說明,明确了“校正零次項相位偏移及一次項相位偏移即可消除校正△B帶來的圖像變形偏帶來的影響”,也就是說,本專利中校正零次項相位偏移及一次項相位偏移是在平面回波成像序列的圖像重建方法中作爲可校正△B帶來的圖像變形的校正因子。因此雖然權利要求5中限定的“零次項相位偏移因子”“一次項相位偏移因子”并非相關領域的技術術語,但是基于本專利說明書中給予的明确闡釋,本領域技術人員可知其是用于平面回波成像序列的圖像重建方法中爲了得到清晰完整能用于診斷的高質量圖像,用于校正有偏離場△B存在的情況下回波信号的相位随回波位置的變化導緻圖像變形的校正參數。至于其如何計算,說明書裏已經給出了以某一參考回波信号爲參照系的具體計算實施方式,本領域技術人員在說明書具體實施方式所公開的内容基礎上可以想到其存在其他可變形的方式,例如以其他參考回波信号作爲參照系,隻要其能夠起到對于平面回波成像序列的圖像重建方法中作爲消除偏離場△B存在的情況下回波信号的相位随回波位置的變化導緻圖像變形的校正參數即可。因此西門子公司認爲其含義不清楚的主張不成立。

4.基于此,引用上述權利要求的從屬權利要求亦不存在上述不清楚的缺陷。

5.權利要求2中限定的“零次項相位偏差因子”“一次項相位偏差因子”并非本領域技術人員熟知明确含義的技術術語,也就是說,上述兩個用語在本領域中并沒有在相關領域中具有内涵和邊界十分明确的含義。此時可以根據在本專利說明書清楚明确說明其含義的,應當遵循其在說明書記載的本義雖然權利要求2、5中限定的上述用語并非相關領域的技術術語,但是基于本專利說明書中給予的明确闡釋,本領域技術人員可知其是用于平面回波成像序列的圖像重建方法中爲了得到清晰完整能用于診斷的高質量圖像,權利要求2中的“零次項相位偏差因子”“一次項相位偏差因子”用于消除圖像N/2僞影帶來的影響的校正參數;權利要求5中的“零次項相位偏移因子”“一次項相位偏移因子”用于校正有偏離場△B存在的情況下回波信号的相位随回波位置的變化導緻圖像變形的校正參數。至于其如何計算,說明書裏已經給出了以某一參考回波信号爲參照系的具體計算實施方式,本領域技術人員在說明書具體實施方式所公開的内容基礎上可以想到其存在其他可變形的方式,例如以其他參考回波信号作爲參照系,其能夠起到對于平面回波成像序列的圖像重建方法中作爲消除圖像N/2僞影帶來的影響的校正參數即可,或者其能夠起到對于平面回波成像序列的圖像重建方法中作爲消除偏離場△B存在的情況下回波信号的相位随回波位置的變化導緻圖像變形的校正參數即可。因此西門子公司認爲其含義得不到說明書支持的主張不成立。

6.權利要求8、10中的“關聯”對于本領域技術人員是有其數學運算含義,是表示兩個定義值之間某種一定的運算關系,這種運算關系已經通過說明書具體實施予以說明。由于在權利要求中不可能完全将說明書具體實施方式的運算步驟限定于權利要求中,對于本領域技術人員而言在閱讀說明書後可以明确這種相關聯的關系。換言之,站在本領域技術人員的角度,可知在計算校正參數的運算過程中如何将兩者“關聯”。并且權利要求8中還進一步限定了所述第一一次項相位9is、所述第二一次項相位2的含義,權利要求10中進一步限定了所述第一零次項相位所述第二零次項相位9o的含義,明确了“關聯”所涉及的具體内容。對于本領域技術人員而言,已經明确其“關聯”在計算校正參數中所具有的數學運算含義。同時,權利要求10中所述的“參考回波信号R2和R3的相位差”并不是表示必然是R3-R2才是可以用于校正步驟中計算的差值,隻不過R3-R2爲正值。反之,作爲數學運算,其被減數與減數之間的互換會導緻相位差校正的值可爲負,但不是不可用于校正計算,因爲兩者互換後,可以相應地調整其他的校正具體步驟的對應運算模式得以完成與本專利說明書具體實施方式中相同的運算結果,從而獲取相同的校正參數。因此西門子公司所述的權利要求8、10得不到說明書支持的理由亦不存在。

由于權利要求8和10并未進一步限定如權利要求9和11中的具體算法,所以并不必然需要完全如同本專利說明書具體實施方式中相同的方式計算,而是可以在權利要求8、10所給出的運算規則之下,不限于權利要求9和11或說明書中具體實施方式相同的方式計算。而所謂“互換運算位置”後導緻的計算校正參數的方式會帶來一系列的變化,并非互換運算後仍然用權利要求9或11或說明書中具體計算方式,而是需要在前述權利要求9、11或說明書具體計算方式的基礎上做相應的适應性調整和改變。因此,西門子公司将參考回波信号R2和R或其他同類參考信号值互換運算後仍然用前述具體計算方式是不合邏輯的,因爲權利要求9、11給出的是權利要求8、1中所包含的可能的諸多計算方式中的一種,而非唯一的一種,故在理解權利要求8、10的保護範圍時不必然套用權利要求9、11的公式進行運算才是對于權利要求8、10保護範圍的唯一解讀僅因爲參考回波信号互換位置而套用權利要求9、11的公式本來就未見符合權利要求9、11所要限定的具體運算方式,也扭曲或明顯不合理地限縮了is、、oth、o的含義或運算方式。故西門子公司的上述主張不成立。

7.基于引用關系,西門子公司主張引用上述權利要求2、5、8、10的從屬權利要求得不到說明書支持的理由亦不成立。另外,西門子公司在2016年12月29日提交的補充意見陳述書中第3點理由指出“權利要求1被權利要求2引用,在權利要求2得不到說明書支持的條件下,包括權利要求2的保護範圍的權利要求1也得不到說明書的支持,權利要求1不符合專利法第二十六條第四款的規定”的主張,基于邏輯上存在缺陷,也不成立。

(三)關于本專利是否符合專利法第二十二條第二款的規定本專利權利要求

1請求保護一種平面回波成像序列的圖像重建方法,證據1公開了“在EPI序列中,核磁共振信号的采樣值的采樣時間典型地處于0.5至4us由此産生信号偏移,其結果是上面示出的N/2僞影。在行方向上的傅裏葉變換之後,所述信号偏移導緻信号的線性相位響應。此外,也可能發生恒定的相位誤差。例如,在基本磁場漂移的情況下,這樣的漂移可能通過渦流導緻圖像變形。在行方向上對原始數據矩陣進行傅裏葉變換之後,由此整體上得到取決于列數i的相位響應:()=o+18示出了在實際的圖像測量之前的讀出梯度GR的正的子脈沖下的核磁共振信号1和在讀出梯度GR的負的子脈沖下的核磁共振信号S2形式的兩個參考回波。在沒有相位編碼梯度的影響的情況下獲取兩個參考回波,即核磁共振信号S1和S2。”證據1還公開了“在前面提到的專利文獻中現在假定,在負的和正的子脈沖下獲取的兩個核磁共振信号之間的相位差代表了最終導緻開始解釋的N/2僞影的相位誤差。然而,在該考慮中忽視了以下效應。兩個參考回波S1和S2和具有不可避免地不同的回波時間,即參考回波S1的回波時間T1小于參考回波S2的回波時間TE2。如果對象中的局部自旋進動頻率以△ω的量與MR設備處設置的頻率不一緻,則這導緻在兩個參考回波之間的相位差,△=△·△TE,其不能與本身要被校正的不同來源的相位差相區别根據按照圖8的本發明的示例性實施例,這通過測量第三參考回波S3來避免,該參考回波與第一參考回波S一樣在讀出梯度GR的正的子脈沖下被測量。”“圖14以流程圖再次示出了整個校正過程。首先,采集參考回波和圖像回波(圖像信号)對于參考回波和對于圖像回波,在行方向上進行傅裏葉變換然後分别對于兩個參考回波,借助自相關函數确定線性相位響應,利用其校正在行方向上傅裏葉變換後的圖像回波。此外,還利用确定的線性相位響應的校正參考回波本身。通過校正後的參考回波的互相關,獲得對于恒定相位響應的校正量。對圖像數據應用對應的校正。通過對校正後的矩陣在列方向上進行傅裏葉變換最終獲得圖像。”這裏行方向上傅裏葉變換的圖像回波相當于本專利中“将所述平面回波成像數據沿讀出方向進行一維傅裏葉變換得變換結果FS1”,同時也給出用校正的參考回波的互相關,獲取恒相位響應的校正量,相當于本專利獲取校正的參數,并對圖像數據進行校正,在列方向上進行傅裏葉變換,相當于本專利中“對校正後的平面回波成像數據沿相位編碼方向做一維傅裏葉變換得到圖像”。

由此可見,證據1與本專利權利要求1相比區别在于:本專利是通過三條參考回波信号計算出需要對所述平面回波成像數據進行校正的參數。而證據1中是“通過第一參考回波S和第三參考回波S3的合适的插值,現在可以确定一個插值回波S2其對應于在第二參考回波S2的測量時間在正的脈沖采集的參考回波S2。換言之,在統一的回波時間T獲得對于負的以及正的子脈沖的參考回波,其對于負的子脈沖的參考回波信号S2是實際測量的,并且在時間TE2對于想象的正的子脈沖的參考回波S2是作爲插值回波計算确定的”。進一步證據1還記載了“通過下式近似獲得所述的插值回波S2:S2=(S1+S3)/2;“圖9至13出具前面的校正測量的完整的EPI脈沖序列。在此,在實際的測量之前在時間TN中确定按照圖8的參考回波S1、S2、S3然而,現在采用參考回波S2和通過插值确定的參考回波S2而不是參考回波S1和S2用于随後的校正。”“然而,由于沒有進行相位編碼步驟,所以沒獲得完整的矩陣,而是僅獲得了一個用于參考回波S2和S2的數據行。在梯度格栅中參考回波S2、S2精确對中心的情況下,在傅裏葉變換之後,結果将是純實數,即,将不呈現相位響應。然而,不進行對中心會導緻線性的相位響應可見,其并非用參考回波S1、S2用于随後的校正,換言之,本專利是用實際采集的不同極性的三條信号計算獲取校正參數,而非如證據1将同極性的兩個參考回波獲取的插值回波S2進行随後的校正,因此本專利權利要求1的上述技術特征未被證據1公開。

本專利說明書表明現有技術當中存在的缺陷,例如在[0005]段至[0007]段已經指出現有技術中通過第一個和第二個回波信号算出相位差異,通過相位差作爲校正量來校正采集到的圖像數據,即由于不是所有偶數項信号與奇數項信号之間的相位差都等于求得的校正量,所以該方法雖然簡單,但效果不好,并不能有效地消除N/2僞影。同時還指出現有技術中二維相位校正法,同樣是在讀取圖像數據前,采集一序列相位編碼的回波信号,利用這些采集到的數據糾正真正的圖像數據。該方法消除N/2僞影效果比較好,但是平面回波成像序列失去了快速成像的優點。而本專利正是要避免這些現有技術的缺陷,在校正圖像變形和消除N/2僞影時保證精準的平面回波成像序列,同時要保證快速成像的效率。可見專利權人正是針對這些現有技術中利用參考回波信号進行計算的缺陷進行改進,因此本專利所述的“計算”爲将參考回波信号直接進行計算,而證據1中将兩個實質取得的第一參考回波S1和第三參考回波S3的合适的插值求得插值回波信号S2就損失了部分信息,可能導緻校正的精準度有所欠缺,而這是本專利所要避免的,所以本專利是利用現實取得三條不同極性參考回波信号計算獲取校正的參數。

綜上所述,本專利權利要求1相對于證據1具備專利法第二十二條第二款規定的新穎性。基于此,引用權利要求1的從屬權利要求2、5、12均相對于證據1具備專利法第ニ十二條第二款規定的新穎性。

(四)關于本專利是否符合專利法第二十二條第三款的規定

 

1.關于西門子公司主張從屬權利要求2的附加技術特征爲證據2、3或4公開

證據2公開的用于磁共振數據獲取單元獲取的第一數據和第二數據的相位校正參數的方法,利用相位校正數據組S1(Xn)和S2(Xn)計算出的一階系數和零階系數,并不相當于本專利權利要求2中的一次項相位偏差因子和零次項相位偏差因子。原因在于,如前所述,由于這兩個用語并非本領域具有明确含義的技術術語,按照說明書中對此作出的釋義,其具有特定的物理含義,而證據2中公開一階系數和零階系統并非單純是對應于由于正負極性差異而散落在直線兩側的數據即表示正負回波信号的相位差異,相反證據2中一階系數和零階系數的物理含義是與正負極回波信号差異有關,但也不可避免有偏離場存在的校正意義。

證據3公開了原始數據矩陣進行傅裏葉變換之後,與列号i有關的相位響應在整個行方向上出現:)=o+i1,即公開了本專利權利要求2中一次項相位偏差因子和零次項相位偏差因子,但是證據3僅公開了系數和常數項,即零次項和一次項,但由于證據3的中文譯文内容有限,無法确認其是否具有與本專利的一次項相位偏差因子和零次項相位偏差因子所具有的物理含義。

證據4的中文譯文僅記載“我們要考慮的兩個主要的相位誤差是一階和零階相位誤差”,但由于證據4的中文譯文内容有限,無法确認其是否具有與本專利的一次項相位偏差因子和零次項相位偏差因子所具有的相同物理含義。

由此可見,證據2、3或4均未公開上述附加技術特征,進而無法與證據1結合去評價權利要求2的創造性,因此西門子公司有關本專利權利要求2不具備創造性的主張不成立。

2.關于西門子公司主張權利要求5的附加技術特征爲證據5或6公開

證據5公開利用頻率偏移計算B場圖,并使用所計算的B場圖對該層的測量數據進行校正。即證據5校正的是B場,而不是獲取如本專利權利要求5中零次項相位偏移因子、一次項相位偏移因子。而本專利的所述這兩個因子根據說明書中釋明的含義,具有代表有偏離場存在情況下回波信号的相位随回波位置變化的校正意義。

證據6公開的回波平面成像序列的糾正方法,其中對所述的相位差進行多階拟合并求反映交叉感應量和頻率漂移量的拟合系數來對圖像數據進行相位修正。證據6的糾正方法是多階拟合,不同于本專利線性拟合的前提,某種程度上可知其必然損失效率,而且其零次項和一次項的含義與本專利中不同。

綜上所述,證據5或6均未公開上述附加技術特征,進而無法與證據1結合去評價權利要求5的創造性,因此西門子公司有關本專利權利要求5不具備創造性的主張不成立。

3.關于其他權利要求的創造性

由于權利要求1、2、5具備創造性,引用上述權利要求的其他從屬權利要求,亦均具備創造性。

本院認爲,本案争議的焦點問題是:(一)本專利權利要求1、2是否具備新穎性,具體爲如何解釋本專利權利要求1中的“計算”;(二)如何解釋本專利權利要求2中的“零次項相位偏差因子”“一次項相位偏差因子”及權利要求5中的“零次項相位偏移因子”“一次項相位偏移因子”;(三)本專利權利要求2、5及其從屬權利要求是否具備創造性,具體包括權利要求2的附加技術特征是否爲對比文件2、3或4所公開,權利要求5的附加技術特征是否爲對比文件5或6所公開。

(一)關于本專利權利要求1、2是否具備新穎性

專利法第二十二條第二款規定:“新穎性,是指該發明或者實用新型不屬于現有技術;也沒有任何單位或者個人就同樣的發明或者實用新型在申請日以前向國務院專利行政部門提出過申請,并記載在申請日以後公布的專利申請文件或者公告的專利文件中。”第五款規定:“本法所稱現有技術,是指申請日以前在國内外爲公衆所知的技術。”

關于本專利權利要求1是否具備新穎性,各方争議集中于如何解釋本專利權利要求1中的“計算”。西門子公司主張,根據最大合理解釋原則,本專利權利要求1中的“計算”應解釋爲本領域技術人員所理解的通常含義,即由已知量算出未知量,而不應限制其具體中間過程。對比文件1與本專利權利要求1均是對采集的三個參考回波信号進行計算以得出校正參數,故本專利權利要求1不具備新穎性。國家知識産權局和聯影公司主張,本專利權利要求1中的“計算”應解釋爲不損失相位以及其他信息的直接計算方式,對比文件1是将S1+S3平均後損失某些信息的間接計算,沒有公開權利要求1中的直接計算方式,故權利要求1具備新穎性。

《最高人民法院關于審理專利授權确權行政案件适用法律若幹問題的規定(一)》第二條規定:“人民法院應當以所屬技術領域的技術人員在閱讀權利要求書、說明書及附圖後所理解的通常含義,界定權利要求的用語。權利要求的用語在說明書及附圖中有明确定義或者說明的,按照其界定”據此,本案中本專利權利要求1中“計算”一詞的解釋,不應當簡單以其字面含義爲準,而應當以本領域技術人員閱讀權利要求書和說明書及附圖後的理解爲準。即便在适用所謂的最大合理原則解釋權利要求時,亦應當在權利要求用語最大含義範圍内,以“合理”解釋爲出發點和落腳點。結合本專利發明目的、說明書及附圖對“計算”的解釋與說明可知,本專利中的“計算”并不包括所有可能的計算方式,而是有其特定含義。首先,本專利在背景技術及發明内容部分指出,現有技術通過第一個和第二個回波信号計算出相位差異,把這些相位差作爲校正量來校正采集到的圖像數據,并不能有效消除N/2僞影;二維相位校正法消除N/2僞影的效果雖比較好,但序列采集時間延長,平面回波成像序列失去了快速成像的優點。正因如此,本專利爲了克服上述缺陷,意在提供一種更爲精準的平面回波成像序列的圖像重建方法。可見,本專利的發明目的已經明确排除了兩個回波信号計算相位差異因而損失相位信息的計算方法。其次,本領域技術人員通過閱讀說明書及附圖能夠理解,本專利權利要求1中的“計算是不損失相位以及其他信息情況下的直接計算,不應當将“計算”一詞根據字面含義進行解釋。對比文件1雖也采集三個參考回波信号,即第一參考回波S1、第二參考回波S2和第三參考回波S3,但其所公開的計算過程爲:先将第一參考回波S1和第三參考回波S3計算得到一個插值回波S2,再利用該插值回波S2和第二參考回波S2計算出校正參數。這種計算方式将損失第一參考回波S和第三參考回波S3中的部分信息,導緻校正的精準度有所欠缺,而這正是本專利所要避免的。可見,對比文件1中的“計算”與本專利權利要求1中的“計算”并不相同。對比文件1并沒有公開本專利權利要求1中不損失相位信息及其他信息情況下的直接計算方式。

因此,本專利權利要求1未被對比文件1公開,應當認定具備新穎性。原審法院的有關認定,本院不予認可。國家知識産權局及聯影公司的相關上訴請求成立,本院予以支持。

關于本專利權利要求2是否具備新穎性,本院認爲,基于本專利權利要求1具備新穎性,引用權利要求1的從屬權利要求2亦當然具備新穎性。被訴決定的有關認定無誤,本院予以确認。

(二)關于如何解釋本專利權利要求2中的“零次項相位偏差因子”“一次項相位偏差因子”及權利要求5中的“零次項相位偏移因子”“一次項相位偏移因子”

西門子公司上訴主張,被訴決定及原審判決未具體指出本專利說明書中哪些段落用于解釋權利要求2、5中的“零次項相位偏差因子”“一次項相位偏差因子”“零次項相位偏移因子”“一次項相位偏移因子”。對于上述用語,應當以本專利說明書[0089]段的記載進行解釋,即權利要求2中的“零次項相位偏差因子”和“一次項相位偏差因子”應當被解釋爲可以用于消除圖像N/2僞影的任何零次項相位校正參數和一次項相位校正參數,而不應限定其具體的計算方法;權利要求5中的“零次項相位偏移因子”和“一次項相位偏移因子”應當被解釋爲可以用于校正圖像變形的任何零次項相位校正參數和一次項相位校正參數,也不應當限定其具體的計算方法。國家知識産權局及聯影公司則認爲,本專利權利要求2、5中的“零次項相位偏差因子”“一次項相位偏差因子”“零次項相位偏移因子”“一次項相位偏移因子”應當以本專利說明書[0083]-[0089]段的記載進行解釋對此,本院認爲,如前所論,應當以所屬技術領域的技術人員在閱讀權利要求書、說明書及附圖後所理解的通常含義,界定權利要求的用語;權利要求的用語在說明書及附圖中有明确定義或者說明的,按照其界定。本案中,本專利權利要求2中的“零次項相位偏差因子”“一次項相位偏差因子”及權利要求5中的“零次項相位偏移因子”“一次項相位偏移因子”并非本領域技術人員所知曉的具有明确含義的技術術語。在此情況下,應當以所屬技術領域的技術人員在閱讀權利要求書、說明書及附圖後所理解的通常含義界定權利要求自創術語的含義。根據本專利說明書的記載,本專利通過消除N/2僞影和校正圖像變形,提供一種在有偏離場的情況下更爲精準的平面回波成像序列圖像的重建方法。其中,消除N/2僞影帶來的影響的方法是校正“零次項相位偏差”和“一次項相位偏差”,與此相對應的校正參數即爲“零次項相位偏差因子”和“一次項相位偏差因子”;校正△B帶來的圖像變形的方法是校正“零次項相位偏移”和“一次項相位偏移”,與此相對應的校正參數即爲“零次項相位偏移因子”和“一次項相位偏移因子”。說明書[0083]-[0089]段對“零次項相位偏差因子”“一次項相位偏差因子”“零次項相位偏移因子”“一次項相位偏移因子”的具體計算方式進行了界定,上述用語具有特定物理含義。[0089]段隻是對“一次項相位偏差因子”“零次項相位偏差因子”“一次項相位偏移因子“零次項相位偏移因子”的含義進行界定所需考慮的因素之,還應結合

[0083]-[0088]段的記載進行綜合考慮,不應僅用[0089]段的記載解釋上述用語的含義。故對西門子公司的上訴意見,本院不予采納。

(三)關于本專利權利要求2、5及其從屬權利要求是否具備創造性

聯影公司上訴主張,對比文件2、3或4未公開本專利權利要求2的附加技術特征,對比文件5或6未公開權利要求5的附加技術特征,本專利權利要求2、5及其從屬權利要求均具備創造性,被訴決定對此認定無誤。國家知識産權局同意聯影公司的主張。西門子公司則認爲,基于其對本專利權利要求2、5中的“零次項相位偏差因子”“一次項相位偏差因子”“零次項相位偏移因子”“一次項相位偏移因子”的解釋,本專利權利要求2、5的附加技術特征已經被對比文件所公開,本專利權利要求2、5不具備創造性。

對此,本院認爲,本專利權利要求2的附加技術特征爲“所述校正參數包括零次項相位偏差因子一次項相位偏差因子”;權利要求5的附加技術特征爲“所述校正參數包括零次項相位偏移因子、一次項相位偏移因子”。如前所論,“零次項相位偏差因子”“一次項相位偏差因子”“零次項相位偏移因子”“一次項相位偏移因子”具有特定物理含義。而對比文件2公開了用于确定用于磁共振數據獲取單元獲取的第一數據和第二數據的相位校正參數的方法,其利用相位校正數據組S1(Xn)和S2(Xn)計算出的一階系數和零階系數并非單純是對應于由于正負極性差異而散落在直線兩側的數據即表示正負回波信号的相位差異,并不相當于本專利權利要求2中的“一次項相位偏差因子”和“零次項相位偏差因子”。對比文件3雖公開了“一次項相位偏差因子”和“零次項相位偏差因子”,但是對比文件3的中文譯文内容有限,被訴決定認爲“無法确認其是否具有本專利的一次項相位偏差因子和零次項相位偏差因子所具有的物理含義”,并無不當。基于對比文件4的有限中文譯文,被訴決定認爲“無法确認其是否具有與本專利的一次項相位偏差因子和零次項相位偏差因子所具有的相同物理含義”,亦無不當。對比文件5校正的是B場,而不是獲取如本專利權利要求5中的“零次項相位偏移因子”“一次項相位偏移因子。對比文件6公開的回波平面成像序列的糾正方法,與本專利線性拟合的前提不同,其零次項和一次項的含義也與本專利不同。綜上,被訴決定認爲,對比文件2、3或4未公開本專利權利要求2的附加技術特征,進而無法與對比文件1結合去評價權利要求2的創造性;對比文件5或6未公開本專利權利要求5的附加技術特征,進而無法與對比文件1結合去評價權利要求5的創造性。該認定并無不當,本院予以确認。由于權利要求2、5具備創造性,被訴決定認爲權利要求2、5的從屬權利要求亦具備創造性,亦無不妥。

綜上所述,原審判決對本專利權利要求1中“計算”一詞的解釋有誤,導緻相關事實認定及法律适用錯誤國家知識産權局、聯影公司的上訴請求成立,應予支持。西門子公司的上訴請求不能成立,應予駁回。依照《中華人民共和國專利法》第二十二條第二款、第三款、第五款,《最高人民法院關于審理專利授權确權行政案件适用法律若幹問題的規定(一》第二條,《中華人民共和國行政訴訟法》第六十九條、第八十九條第一款第二項之規定,判決如下:

一、撤銷北京知識産權法院(2018)京73行初1404号行政判決;

二、駁回西門子(深圳)磁共振有限公司的訴訟請求。

二審案件受理費100元,由西門子(深圳)磁共振有限公司負擔。

本判決爲終審判決。